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致茂Chroma 3280Test-In-Tray 測試分類(lèi)機

主要特色：

• 整合SD卡測試機與自動(dòng)分類(lèi)機功能
• 平行測試120個(gè)micro SD卡
• Test-In-Tray
• UPH = 5400 (以70秒的測試時(shí)間為例)
• 支援SD卡資料通訊協(xié)定
• 支援DC參數量測功能
• Microsoft Windows XP OS
• 提供Tray Map與分類(lèi)結果資訊
• 小機臺體積 : 164cm x 79cm x 180cm
• 選配設備
• 3rd Party測試模組整合
• Mini SD, SD與MMC的測試介面
• SD卡資料寫(xiě)入模組

Chroma 3280采用創(chuàng )新的技術(shù)整合SD卡測試機與 自動(dòng)分類(lèi)機的功能，并利用Test-In-Tray的技術(shù)來(lái) 達到大量平行測試的能力。透過(guò)支援SD資料傳 輸協(xié)定(SD Protocol Aware)與提供特定DC參數測 試的功能，3280為所有的SD卡類(lèi)產(chǎn)品帶來(lái)了一 個(gè)創(chuàng )新的測試方法，而這高效率的測試方法也為 客戶(hù)帶來(lái)大幅降低生產(chǎn)成本的好處。此外，小機 臺的設計更可節省機臺于測試廠(chǎng)之占地面積。

對于低價(jià)的消費性產(chǎn)品而言,即使在生產(chǎn)成本上 僅有些微的差距，制造商也會(huì )極為敏感。而這樣 的特性往往是此類(lèi)消費性產(chǎn)品在成品測試中之一 大挑戰。對于SD卡類(lèi)產(chǎn)品而言，為了能夠降低 生產(chǎn)的成本，SD卡類(lèi)制造商了解在SD卡的制程 中必須采用Known Good Die(KGD)來(lái)進(jìn)行生產(chǎn)。 其主要的原因，乃是因為采用KGD生產(chǎn)的SD卡類(lèi) 產(chǎn)品，將可減少在成品測試中對于測試項目的要 求，只需針對成品封裝過(guò)程中所可能產(chǎn)生的瑕疵 進(jìn)行檢測，而不需要再對整個(gè)晶片進(jìn)行完整的測 試。

Chroma 3280整合了測試機臺與自動(dòng)分類(lèi)機的功 能，并采用創(chuàng )新的設計，滿(mǎn)足采用KGD生產(chǎn)的SD 卡類(lèi)產(chǎn)品的測試需求，不論是在機臺的成本或是 體積上，都比傳統的測試機臺來(lái)的大幅降低，因 此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。

Chroma 3280提供SD卡高效率的測試解決方案

Test-In-Tray : 乃是將待測物置于IC托盤(pán)中直接測 試的測試方式。利用這樣的測試方法，可以大幅 節省傳統的測試方法因自動(dòng)分類(lèi)機在進(jìn)行測試 時(shí)，必須以機器手臂夾取每個(gè)待測元件所需花取 的索引時(shí)間。因此，提供了一個(gè)蕞有效率的測試 方法。在Chroma 3280中,對于120個(gè)SD卡進(jìn)行測 試時(shí)所需花費的索引時(shí)間大約只有10秒鐘。

高平行測試能力 : Chroma 3280配備了一個(gè)專(zhuān)屬 的SD卡測試機巢 (Test Hive)，此一測試機巢提供 了能夠同時(shí)測試120個(gè)micro SD卡的測試能力。

僅移除SD卡測試壞品 : 由于3280使用置于盤(pán)中 直接測試(Test-In-Tray)以及SD卡有著(zhù)高良率的特 性，3280采取僅從整盤(pán)的SD卡中移除于測試過(guò) 程中所偵測到的瑕疵品到廢品盤(pán)內，同時(shí)再從預 先準備好的補充盤(pán)中夾取已測試過(guò)的良品來(lái)補足 目前測試盤(pán)中被移除的壞品，而將目前的測試盤(pán) 填滿(mǎn)成一完整的良品，并送至完測區。假設若以 98%的測試良率而言，每次僅需從測試盤(pán)中移除 2到3個(gè)壞品。因此，在進(jìn)行好壞品分類(lèi)中平均 所花的時(shí)間將小于測試所花的時(shí)間，不須要等候 分類(lèi)工作完成后才能進(jìn)行下一次的測試，也使得 整體的測試時(shí)間更有效率。

SD卡測試模組 : Firecracker II

Firecracker II的電路設計與裝置于3280測試機巢 (Test Hive)中的測試模組其電路設計*一樣。 對于3280的使用者而言，Firecracker II是一個(gè)相 當方便的工具。它能夠使得使用者在與3280離線(xiàn) 的狀態(tài)下，用來(lái)產(chǎn)生或測試其測試程式。透過(guò)多 樣化轉接介面的設計，使用者能在Firecracker II的 左端中插入micro SD, mini SD, SD以及MMC等不同 的待測物，而將其右邊的USB介面可插入電腦的 USB插槽，配合Firecracker II所提供的軟體程式， 使用者將可進(jìn)行直接的測試或是除錯等工作。

測試能力

SD Protocol Aware Tests

• Check CID Reg
• Check CSD Reg
• Check OCR Reg
• Check SCR Reg
• Check SD Status
• Functional Test

DC Measurements

• Open/Shorts
• ESD Diodes
• Power Up Idd
• Leakage

軟體功能

• 使用者權限與密碼管理
• 機臺狀況警示偵測系統
• 視覺(jué)化圖解顯示機臺卡件錯誤發(fā)生區域
• 提供離線(xiàn)模擬執行模式
• 即時(shí)測試結果顯示與更新
• 可個(gè)別或取消單一待測物之測試
• 測試良率與UPH資訊顯示
• 多種良率監控指標設定
• 測試中機臺開(kāi)門(mén)中斷保護功能
• 緊急停機控制功能
• 系統警示紀錄保存功能

Sorting Status

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